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工程测试与信息处理【满额减

书名 : 工程测试与信息处理【满额减

作者 : 孔德仁

出版社 : 国防工业出版社

出版日期 : 2003-09

ISBN : 9787118031638

价格 : 138.98

开本 : 16开

装帧 : 平装-胶订

纸张 : 胶版纸

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