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SoC设计与测试 于敦山
SoC设计与测试 于敦山
书名 :
SoC设计与测试 于敦山
作者 :
于敦山
出版社 :
北京航空航天大学出版社
出版日期 :
2003-08
ISBN :
9787810773089
价格 :
650.00
开本 :
16开
装帧 :
平装-胶订
纸张 :
胶版纸
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内容简介
《SOC设计与测试》分为设计师和测试两个部分，分别介绍了SOC设计方法和测试方法，大设计部分介绍了在设计时会遇到的问题和传统的的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核，存储器核，及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SOC系统的验证方法，在测试部分，介绍SOC中逻辑核，存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍IDDQ测试大SOC测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题，全书内容全面，可以作为教材。对ASIC设计工程师及系统设计工程师都有较高的参考价值。