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智能机内测试理论与应用【满减】

书名 : 智能机内测试理论与应用【满减】

作者 : 温熙森

出版社 : 国防工业出版社

出版日期 : 2002-01

ISBN : 9787118026511

价格 : 28.57

开本 : 16开

装帧 : 精装

纸张 : 胶版纸

修改数据

内容简介

机内测试是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。采用BIT技术研制开发复杂机电系统和装备，能大幅度提升装备系统的整体性能。近年来，国外开始重点研究BIT中的智能理论与方法以进一步提高BIT的综合效能。智能BIT目前正逐步在多个领域得到验证，应用前景广阔。