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电子系统小子样试验理论方法【

书名 : 电子系统小子样试验理论方法【

作者 : 王国玉

出版社 : 国防工业出版社

出版日期 : 2003-04

ISBN : 9787118030921

价格 : 548.10

开本 : 16开

装帧 : 平装-胶订

纸张 : 胶版纸

修改数据

内容简介

本书对Bayes小子样方法的理论及在电子系统试验中的应用做了详细介绍和阐述。由于Bayes方法的先进性，对于试验结果解释的合理性及其使用时的易操作性，使得该方法在得到同样的置信度条件下，所需的样本数目大为减少，从而有效地缩短试验周期，大大降低试验消耗，提高试验效率，有着广泛的应用前景。