奥宏书架 奥宏书架
材料科学研究与测试方法
书名 : 材料科学研究与测试方法
作者 : 朱和国编著
出版社 : 东南大学出版社
出版日期 : 2016-10
ISBN : 9787564167035
价格 : 59.80
开本 : 16开
内容简介
本书介绍了晶体学基础知识,然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角X射线散射、薄膜应力及厚度测定等方面的应用。