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数字集成电路功耗与测试综合优化

书名 : 数字集成电路功耗与测试综合优化

作者 : 孙强著

出版社 : 清华大学出版社

出版日期 : 2016-12

ISBN : 9787302455608

价格 : 46.00

开本 : 32开

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内容简介

本书运用高层次综合与设计技术，对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究，介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法，推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。