奥宏书架

互换性与测量技术基础

书名 : 互换性与测量技术基础

作者 : 高丽，于涛，杨俊茹主编

出版社 : 北京理工大学出版社

出版日期 : 2018-01

ISBN : 9787568252430

价格 : 55.00

开本 : 26cm

页数 : 208

修改数据

内容简介

本书包括绪论, 测量技术基础, 孔、轴公差与配合及其尺寸检测, 几何公差及检测, 表面粗糙度及检测, 滚动轴承与孔轴结合的互换性, 渐开线圆柱齿轮公差与检测, 常用连接件公差与检测, 圆锥公差以及尺寸链等共十章。