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抗辐射集成电路设计理论与方法
抗辐射集成电路设计理论与方法
书名 :
抗辐射集成电路设计理论与方法
作者 :
高武 编著
出版社 :
清华大学出版社
出版日期 :
2017-02
ISBN :
9787302505297
价格 :
139.00
开本 :
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内容简介
本书首先介绍辐射环境、辐射相互作用物理过程及若干种辐射效应；接着详细介绍集成电路抗辐射加固设计方法学，包括单粒子闩锁加固策略及测试、辐射加固器件的SPICE模型、抗辐射单元库设计、自动综合的抗辐射数字电路设计、模拟和混合信号电路加固设计等；最后介绍集成电路辐射效应仿真、单粒子效应的脉冲激光测试原理和辐射加固保障测试。